Čína vyšetruje spoločnosť Nvidia pre poškodzovanie hospodárskej súťaže
- 17:56 09.12.2024
- Peking
Čínske úrady začali vyšetrovať amerického výrobcu čipov Nvidia z dôvodu poškodzovania hospodárskej súťaže. TASR o tom informuje na základe správy agentúry DPA, ktorá sa v pondelok odvolala na čínsku štátnu televíziu CCTV.
Konflikt medzi Washingtonom a Pekingom v oblasti polovodičových technológií sa v posledných mesiacoch vyostril. Nvidia patrí medzi najvýznamnejšie spoločnosti v odvetví na svete. USA sa snažia Číne sťažiť prístup k najmodernejším počítačovým čipom, ktoré sa používajú aj v moderných zbraňových systémoch. Peking obviňuje Washington, že bráni normálnej hospodárskej a obchodnej výmene. Začiatkom minulého týždňa Washington ďalej obmedzil vývoz technológií a softvéru na výrobu a vývoj čipov do Číny. Peking zareagoval novými obmedzeniami na vývoz surovín dôležitých pre výrobu polovodičov do USA.
Deepfake videá a falošné reklamy: Ako investičné podvody ohrozujú Slovákov
Počet zachytených digitálnych hrozieb na Slovensku vzrástol v druhej polovici roka 2024 o deväť percent v porovnaní s prvým polrokom.
Napriek sankciám luxusný tovar zo Západu plní ruské obchody
Napriek množstvu sankcií uvalených na Rusko a vysokému počtu firiem, ktoré krajinu po útoku na Ukrajinu opustili, bohatí obyvatelia Moskvy si v prípade západných značiek majú stále z čoho vyberať.
Technologický sektor opäť potiahol trhy: Dow Jones, S&P 500 a Nasdaq zaznamenali solídny rast
Akcie v Spojených štátoch ukončili obchodovanie v utorok 24. decembra, ktoré bolo pre blížiaci sa sviatočný deň v krajine skrátené, solídnym rastom.
Analytik: Realitný trh by mal rásť aj v roku 2025, očakáva sa aj zvyšovanie cien
Realitný trh sa v tomto roku vyvíjal priaznivo a dostal sa znovu na rastovú trajektóriu. V rastovej fáze by mal zotrvať aj v roku 2025.
Príspevky do druhého piliera zostávajú na rovnakej úrovni, prichádza nová prognóza pre sporiteľov
Sadzba príspevkov do druhého piliera sa od 1. januára budúceho roka nezmení a zostane vo výške štyroch percent z vymeriavacieho základu.
